檢索結果:共1筆資料 檢索策略: "自動化及控制研究所".dept (精準) and ckeyword.raw="最小距離分類器"
個人化服務 :
排序:
每頁筆數:
已勾選0筆資料
1
本研究主要針對彩色濾光片微觀瑕疵進行辨識與分類,檢測的瑕疵種類分為微粒(Grain)、黑色矩陣破洞(Black Matrix Hole, BMH)、透明導電膜(Indium Tin Oxide, I…